山東全(quán)譜(pǔ)直(zhí)讀光(guāng)譜儀廠(chǎng)家(jiā)

Ø 光學(xué)焦距(jù)：光柵半徑(jìng)400mm，較(jiào)長的焦(jiāo)距為儀器(qì)提供了優(yōu)秀的分辨率。

Ø 譜(pǔ)綫(xiàn)範圍(wéi)：可(kě)探(tàn)測波長(cháng)範圍（120～800）nm，可分(fēn)析(xī)包括 N，Li， Na，K 等元(yuán)素(sù)及(jí)常(cháng)規元素，滿(mǎn)足各個基體材質對測試元素(sù)的需(xū)求。

Ø 入射狹縫：狹縫寬(kuān)度12μm，精細的(dí)入射狹縫有效(xiào)地過濾(lǜ)掉(diào)不必要的雜光，避免探測(cè)器接收(shōu)光強過(guò)於飽和，降低元素間光(guāng)強幹擾值。入射狹縫(féng)示意(yì)圖

Ø 光源透鏡(jìng)：采用石英(yīng)玻璃材(cái)質(zhì)MgF2渡(dù)層，保(bǎo)證(zhèng)C，S，P，N等紫(zǐ)外波長透過光(guāng)強強，使(shǐ)紫(zǐ)外短波(bō)測(cè)量(liáng)結(jié)果更(gēng)為(wéi)可靠。

Ø 探(tàn)測器：采(cǎi)用CCD探(tàn)測器(qì)，最(zuì)多(duō)安裝(zhuāng)16塊CCD，采(cǎi)用(yòng)上下錯(cuò)位布(bù)局(jú)，不同(tóng)波長(cháng)之間(jiān)沒有間(jiān)隙(xì)，使(shǐ)光譜波(bō)長成為(wéi)一整(zhěng)體，實現(xiàn)全(quán)譜(pǔ)覆(fù)蓋，滿足(zú)客戶(hù)對多(duō)元(yuán)素(sù)測試需求。

Ø 凹(āo)麵(miàn)光柵：2400gr/mm，色散率倒(dǎo)數：0.47nm/mm（1級(jí)），凹麵(miàn)光(guāng)柵可以(yǐ)減少(shǎo)吸(xī)收(shōu)現(xiàn)象，隻存在(zài)光柵麵一次反(fǎn)射(shè)的(dí)光(guāng)損失(shī)，且(qiě)無色差(chà)，提(tí)升真空(kōng)紫外(wài)光(guāng)譜效(xiào)果(guǒ)。

Ø 分(fēn)析時間：依樣品種(zhǒng)類而不同(tóng)，一般(bān)一次分(fēn)析用時少於(yú)40秒(miǎo)。

Ø 激(jī)發(fā)光源：數(shù)字(zì)化激(jī)發(fā)光(guāng)源，多種激(jī)發(fā)條件可調，滿足不(bù)同(tóng)材質(zhì)的分析需求。

Ø 測光方式(shì)：V-F法

Ø 控製係(xì)統：采用FPGA技(jì)術控(kòng)製儀器工作(zuò)狀態。

Ø 尺(chǐ)寸大小：890*560*515 mm

Ø 激發電(diàn)極：采(cǎi)用高純度(dù)鎢(wū)電極，此(cǐ)高純度(dù)鎢電(diàn)高強(qiáng)度，耐腐蝕，耐高溫(wēn)氧化優點(diǎn)，降(jiàng)低(dī)儀器(qì)使(shǐ)用過(guò)程(chéng)中儀(yí)器(qì)參(cān)數(shù)對(duì)測試數(shù)據(jù)的(dí)影響(xiǎng)。

Ø 儀(yí)器重量：約60kg；

Ø 消耗功率(shuài)：1.0kW；

Ø 真空要求：5～12 Pa；

Ø 氬(yà)氣(qì)模塊(kuài)：分析流量4 L/min；待機流(liú)量0.1 L/min；

優(yōu)秀的(dí)節(jié)氬技術(shù)：保(bǎo)證(zhèng)客戶(hù)日常使(shǐ)用氬氣需求量的降(jiàng)低(dī)，減(jiǎn)少企(qǐ)業(yè)使(shǐ)用(yòng)成(chéng)本(běn)。

智能，優(yōu)良的(dí)氣路監控(kòng)：激(jī)發前，監控係統(tǒng)確保(bǎo)樣(yàng)品(pǐn)夾，樣(yàng)品和火花(huā)台形成回(huí)路(lù)，確保火花(huā)室(shì)密封，不漏氣(qì)。確保樣品表麵(miàn)平(píng)整度達到(dào)要(yào)求(qiú)。激(jī)發後，脈衝式氬氣吹掃，提升(shēng)粉(fěn)塵(chén)去除效果(guǒ)，確(què)保(bǎo)儀器的(dí)短期和(hé)長期(qī)穩定性(xìng)。

Ø 操(cāo)作(zuò)係(xì)統(tǒng)：采(cǎi)用(yòng)品牌(pái)計(jì)算機質(zhì)量更可靠，操(cāo)作軟件(jiàn)係統(tǒng)OwindLab，計算(suàn)算法(fǎ)結合(hé)優(yōu)異(yì)的硬件(jiàn)係(xì)統大幅度提(tí)升儀(yí)器的(dí)性能。

1 .實(shí)驗室環(huán)境(jìng)要求

Ø 溫(wēn)    度：（20～30）℃，允許(xǔ)的最(zuì)大(dà)溫度變化： ±2 ℃/小時(shí)；

Ø 相對濕(shī)度：（20～80）%，無(wú)水汽(qì)凝結；

Ø 防震要(yào)求：儀(yí)器工(gōng)作場所應(yīng)防止(zhǐ)震動，如(rú)周邊有(yǒu)較(jiào)大(dà)震動(dòng)，宜(yí)采取減震措施；

Ø 潔(jié)淨(jìng)要(yào)求：實驗室(shì)保持(chí)清(qīng)潔，盡可(kě)能不與酸鹼等腐蝕性物(wù)質在(zài)一起；

Ø 屏(píng)蔽要求：防(fáng)止(zhǐ)電(diàn)磁(cí)幹(gān)擾，環境存(cún)在強(qiáng)電(diàn)磁場時(shí)，實驗(yàn)室(shì)宜采取屏(píng)蔽(bì)措施；

Ø 氬(yà)氣要求：≥99.999%，含(hán)氧量(liáng)不(bù)超過(guò)2mg/L；

Ø 電源要求(qiú)：220V(±10%)，電(diàn)流10A，單相(xiāng)50Hz；

Ø 接(jiē)地(dì)電阻(zǔ)：＜4Ω。

2 .軟件(jiàn)介紹：全譜直讀(dú)火花光譜儀(yí)擁(yōng)有(yǒu)清晰簡潔(jié)的軟(ruǎn)件操(cāo)作(zuò)界麵，針(zhēn)對不(bù)同文化層(céng)次及(jí)不同(tóng)年(nián)齡段(duàn)做出(chū)了(liǎo)優(yōu)化(huà)改善，使操(cāo)作人(rén)員更(gēng)易上手(shǒu)，操作更簡潔(jié)。

山東全譜(pǔ)直讀(dú)光(guāng)譜儀廠(chǎng)家