激(jī)發部位的選擇:試(shì)樣製備好後(hòu)在(zài)什麼地(dì)方激(jī)發合適(shì)?
一(yī)般(bān)選(xuǎn)在距(jù)離試樣中心三分之二(èr)的圓周(zhōu)部位。
如(rú)鋼(gāng)鐵(tiě)試樣(yàng)在(zài)模(mó)具中凝固(gù)以(yǐ)後會(huì)形成三個晶(jīng)區即(jí)精(jīng)細粒區,柱狀(zhuàng)晶區和等軸(zhóu)晶區。試樣外層是精(jīng)細粒區(qū),該(gāi)區域晶粒(lì)雜亂(luàn)且區域較小(xiǎo)(一般隻(zhī)有兩三毫(háo)米);試(shì)樣中(zhōng)心區域是(shì)等(děng)軸晶(jīng)區(qū),就晶體(tǐ)本身(shēn)來說較(jiào)適合光(guāng)譜分析(xī),但(dàn)是該區域(yù)多(duō)縮(suō)孔,砂(shā)眼,夾雜等缺(quē)陷(xiàn);所以距離試(shì)樣中心(xīn)三分之二的圓周是理想(xiǎng)的分析區域(yù),該(gāi)區(qū)域多為(wéi)柱狀晶(jīng),宏觀偏析也(yě)較小,適(shì)合光譜分析(xī)。
另外,鑄態(tài)試(shì)樣凝(níng)固時(shí)間越(yuè)短(duǎn)越(yuè)有(yǒu)利於(yú)分析(xī),以(yǐ)避免偏(piān)析(xī)的出現(xiàn)。
綫材(cái),棒(bàng)材能不(bù)能(néng)用直(zhí)讀(dú)光譜儀分析(xī)?
可以(yǐ),但必須(xū)使(shǐ)用(yòng)特(tè)殊(shū)的小(xiǎo)樣品(pǐn)夾具。為滿(mǎn)足分(fēn)析(xī)結(jié)果的(dí)要求,不(bù)同的樣(yàng)品(pǐn)需(xū)要配(pèi)備不同(tóng)種(zhǒng)類(lèi)的夾具(jù)。目前很多廠(chǎng)家的(dí)儀(yí)器可(kě)以進行(háng)小(xiǎo)樣品的(dí)測定。