探測器

美(měi)國(guó)Amptek X-55 Si-PIN探測(cè)器，整(zhěng)體(tǐ)

l Be窗(chuāng)厚(hòu)度(dù):1mil

l 晶體麵(miàn)積(jī):25mm 2

l 信(xìn)號(hào)處理(lǐ)係統(tǒng):DP5

l 最佳分辨率:145eV

高(gāo)壓電(diàn)源

l 輸(shū)出電壓(yā)：0~50kV

l 燈絲(sī)電流(liú)：0~2mA

l 最(zuì)大(dà)功率：50W

l 8小時(shí)穩定(dìng)性：0.05%

射綫(xiàn)管

l 輸出(chū)電(diàn)壓：0~50kV

l 燈絲電流：0~2mA

l 最(zuì)大功率(shuài)：50W

l 靶    材(cái)：Mo

l Be窗(chuāng)厚度：0.2mm

l 使用壽(shòu)命：2萬小(xiǎo)時

準直器(qì)

l 多種(zhǒng)濾光(guāng)片，準直(zhí)器自動切(qiē)換(huàn)

l 光斑大小：Φ0.1mm，Φ0.3mm，Φ0.7mm，Φ1.2mm，Φ2.0mm，Φ5.0mm，Φ7.0mm。可(kě)任選4種X射綫光斑

樣(yàng)品倉大小

l 樣品倉大小(xiǎo)可定製！

外(wài)形尺寸 ：510mm×380mm×395mm（H）

樣(yàng)品(pǐn)倉尺(chǐ)寸(cùn) ：360mm×330mm×80 mm（H）

精(jīng)密(mì)度（EC-681K）

Pb ≤ 5ppm，Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 7ppm, Cr ≤ 6ppm, Cd ≤ 5ppm

準(zhǔn)確(què)度（EC-681K）

Pb ≤ 7ppm，Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 5ppm, Cr ≤ 3ppm, Cd ≤ 4ppm

檢(jiǎn)出限

對聚合物材料(liào)：Pb ≤ 5ppm，Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 5ppm, Cr ≤ 5ppm, Cd ≤ 5ppm；

對銅(tóng)基(jī)體材料：Pb ≤ 20ppm

鍍層：0.003um-40um

測量時間

15-240 秒(miǎo)（軟(ruǎn)件可(kě)自動調(tiáo)整）

測試(shì)元(yuán)素範(fàn)圍(wéi)

測(cè)試(shì)元素(sù)範圍(wéi)：S-U中的(dí)元素(sù)。

ROHS限定(dìng)有害元素(sù)：鉛（Pb），汞(Hg)，鎘(Cd)，鉻(gè)(Cr6+)，多溴(xiù)聯苯(běn)(PBBS)，多(duō)溴(xiù)二苯(běn)醚(mí)(PBDE) + 鹵素。

玩具指(zhǐ)令(líng)：鉛(qiān)（Pb），汞(gǒng)(Hg)，鎘(Cd)，鉻(gè)(Cr)，銻（Sb），砷(As)，鋇(bèi)(Ba)，硒(Se).

合金(jīn)：銅材，鐵(tiě)合金，鎳(niè)合(hé)金(jīn)，錫(xī)合金(jīn)，鈦合金(jīn)，貴金(jīn)屬(shǔ)等。

鍍(dù)層：Ag/Sn/Au/Ni-Cu, Cr/Zn/Ni/Ag-Fe。 

檢測範圍

1ppm-99.99%

測試樣品類型

固(gù)體，粉末和液體

CCD觀(guān)察(chá)

500萬像素高(gāo)清CCD

輸入(rù)電(diàn)源

AC220V～240V，50/60Hz

工作環境(jìng)溫度

溫度(dù)15-35℃

工作(zuò)環境相對(duì)濕(shī)度(dù)

≤85%（不結露）

重(zhòng)量

約35Kg