X射綫熒(yíng)光(guāng)光譜儀(yí)具有(yǒu)重現性(xìng)好(hǎo)，測量速度(dù)快，靈敏(mǐn)度高(gāo)的(dí)特點。能(néng)分析(xī)B(5)~U(92)之(zhī)間(jiān)所有(yǒu)元(yuán)素。樣(yàng)品可以是固體，粉末(mò)，熔(róng)融片，液(yè)體等，分析對象(xiàng)適(shì)用於(yú)煉(liàn)鋼(gāng)，有色(sè)金屬，水泥，陶瓷，石(shí)油(yóu)，玻璃(lí)等行(háng)業(yè)樣(yàng)品(pǐn)。

　　X射綫熒光光譜(pǔ)是(shì)一(yī)種常用的光譜技術(shù)，既可(kě)用於材料(liào)的組(zǔ)成(chéng)成分(fēn)分析，又(yòu)可(kě)用於塗(tú)層(céng)和(hé)多層薄膜厚度(dù)的(dí)測(cè)量等(děng)。

　　X射綫熒光(guāng)光譜(pǔ)儀使(shǐ)用的注(zhù)意事項

　　(1)樣品檢測前(qián),為了減少雜質(zhì)對結(jié)果的(dí)影(yǐng)響,應該(gāi)對樣品進行盡可能(néng)的(dí)清潔(jié)處理(lǐ)。選用(yòng)清(qīng)潔(jié)試劑時,要極(jí)為慎重,以免對(duì)樣(yàng)品(pǐn)產生影(yǐng)響。

　　(2)為(wéi)了防止(zhǐ)樣品(pǐn)不(bù)同區(qū)域(yù)的狀態(tài)有(yǒu)所(suǒ)不同(tóng),需要對(duì)同一(yī)樣(yàng)品多點測量,以(yǐ)提高測量的可信度(dù),即(jí)注意采樣點(diǎn)的合理(lǐ)性。

　　(3)對同一樣品(pǐn)進(jìn)行多(duō)次(cì)測(cè)試,以(yǐ)證明(míng)檢測(cè)方(fāng)法的(dí)精密(mì)度(dù)。

　　(4)初期(qī)的數據需(xū)要用(yòng)不同(tóng)的(dí)檢(jiǎn)測(cè)方法和實驗進行比(bǐ)對(duì),以保證(zhèng)測(cè)量數(shù)據(jù)的準確性(xìng)，可靠(kào)性。采用(yòng)有損檢(jiǎn)測方法(例如化(huà)學分析法(fǎ),這(zhè)時候需要對不(bù)重要(yào)的(dí)樣品(pǐn)進(jìn)行分析)對比(bǐ)儀器(qì)的檢測結果(guǒ)。

　　(5)選取(qǔ)標樣(yàng)時盡(jìn)可(kě)能地(dì)與樣(yàng)品的(dí)組(zǔ)成(chéng)相(xiāng)近(jìn)。

　　(6)X射(shè)綫熒(yíng)光光(guāng)譜法(fǎ)是(shì)一(yī)種表麵分析技(jì)術,其(qí)分析(xī)結(jié)果受樣(yàng)品(pǐn)表麵(miàn)大(dà)小(xiǎo)，光潔度(dù)和(hé)幾何(hé)形狀(zhuàng)的(dí)影(yǐng)響較(jiào)大。校(xiào)正公式和(hé)校(xiào)正係數的建立(lì)也需(xū)要總結。