合(hé)金ICP光譜(pǔ)儀還(huán)有(yǒu)許多(duō)根據(jù)用戶的建議和實際(jì)經(jīng)驗而(ér)改進的(dí)地方(fāng)
。比如(rú)耐化學腐蝕(shí)的表麵(miàn)和(hé)便於維修(xiū)更換(huàn)部件的側麵(miàn)開(kāi)門等
。該儀(yí)器(qì)配備*CCD光(guāng)學(xué)係(xì)統(tǒng)設計*可(kě)靠的(dí)RF發生器(qì)，簡(jiǎn)化了(liǎo)安裝和(hé)培訓(xùn)要求
。按(àn)照EPA標(biāo)準預先設置好(hǎo)分(fēn)析方法，適(shì)合分析：金屬(shǔ)，水/廢(fèi)水，土(tǔ)壤，泥汙，濾(lǜ)渣等
。儀器設備緊湊(còu)，占(zhān)用(yòng)麵積(jī)小，樣品流程非(fēi)常短，因(yīn)此大大(dà)縮短了分(fēn)析(xī)時間(jiān)和衝(chōng)洗時間
。

　　在ICP光源(yuán)中(zhōng)，光(guāng)譜幹擾是(shì)十分嚴(yán)重的幹(gān)擾，光(guāng)譜幹擾主(zhǔ)要(yào)分為(wéi)兩(liǎng)類(lèi)：

　　一(yī)類(lèi)是(shì)譜綫重(zhòng)疊幹擾，是(shì)由(yóu)於(yú)光譜儀色(sè)散(sàn)率(shuài)和(hé)分辨率(shuài)的(dí)不足，使(shǐ)某些(xiē)共存(cún)元素的譜綫(xiàn)重疊(dié)在分(fēn)析上的幹擾；

　　另一類是(shì)背景(jǐng)幹擾(rǎo)，這類幹擾與基(jī)體(tǐ)成(chéng)分及ICP光源(yuán)本身所發(fā)射(shè)的強烈(liè)的雜散(sàn)光(guāng)的影(yǐng)響有(yǒu)關(guān)
。

　　對(duì)於譜(pǔ)綫重(zhòng)疊(dié)幹擾，采(cǎi)用高分(fēn)辨率的(dí)分(fēn)光(guāng)係統(tǒng)，決(jué)不(bù)是意(yì)味著可(kě)以(yǐ)*消(xiāo)除這(zhè)類光譜(pǔ)幹(gān)擾(rǎo)，隻(zhī)能(néng)認為(wéi)當(dāng)光譜幹(gān)擾產(chǎn)生(shēng)時(shí)，它們(mén)可以(yǐ)減輕(qīng)至小(xiǎo)強度
。因(yīn)此(cǐ)，常用的方法(fǎ)是選擇(zé)另外一條(tiáo)幹擾少(shǎo)的譜(pǔ)綫作(zuò)為分(fēn)析(xī)綫，或應(yīng)用幹擾(rǎo)因(yīn)子校(xiào)正(zhèng)法(fǎ)(IEC)予(yú)以校(xiào)正
。對(duì)於背景幹(gān)擾(rǎo)，有(yǒu)效(xiào)辦法是利(lì)用現代(dài)儀(yí)器(qì)所(suǒ)具(jù)備的背景校(xiào)正技(jì)術給予(yú)扣(kòu)除(chú)
。