ICP-AES
，ICP-OES
，ICP-MS光譜(pǔ)儀的差別(bié)

ICP-AES (Inductively Coupled Plasma atomic emission spectrometry)電(diàn)感(gǎn)耦合(hé)等(děng)離子體原子發射光(guāng)譜(pǔ)儀
，ICP-AES等離子體發(fā)射光(guāng)譜儀是近(jìn)三十(shí)年(nián)迅速發展(zhǎn)的一種(zhǒng)十分理想(xiǎng)的(dí)痕量(liáng)元素(sù)分析(xī)儀(yí)器.它基於物質在高頻(pín)電磁(cí)場所形成的高(gāo)溫(wēn)等(děng)離子體中,有良好特征譜綫發射,進而(ér)實現對(duì)不同元素的測定(dìng).它(tā)具有檢出(chū)限(xiàn)極低(dī)，重現性好(hǎo)
，分(fēn)析(xī)元素多等顯(xiǎn)著(zhù)特點。附(fù)特殊裝(zhuāng)置(zhì)還可(kě)以(yǐ)實(shí)現(xiàn)更(gēng)多非金屬(shǔ)元(yuán)素的(dí)測量。

ICP-OES(Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer ) 電感耦(ǒu)合(hé)等(děng)離子體(tǐ)發(fā)射光(guāng)譜(pǔ)儀
，現在的稱呼。因為(wéi)現在(zài)icp發射(shè)光(guāng)譜技術(shù)用(yòng)到了越(yuè)來(lái)越多的離(lí)子(zǐ)綫
，"原子發射光譜(pǔ)儀"已經不是那麼科(kē)學
，所以現(xiàn)在(zài)都(dū)叫(jiào)oes了。ICPOES可(kě)同時分析常量(liáng)和(hé)痕(hén)量組分
，無(wú)需繁(fán)復的雙向觀測(cè)
，還能同(tóng)時(shí)讀出(chū)，無(wú)任(rèn)何(hé)譜(pǔ)綫缺失的全(quán)譜直(zhí)讀(dú)等離(lí)子(zǐ)體發射光譜儀,快(kuài)速(sù)，綫性範(fàn)圍寬等優點。

ICP-MS(Inductively Coupled Plasma mass spectrometry) 電(diàn)感(gǎn)耦合等離子體(tǐ)質(zhì)譜(pǔ)儀
，ICP-MS是(shì)一個以質(zhì)譜(pǔ)儀作(zuò)為檢測(cè)器的(dí)等離子(zǐ)體(tǐ)
，ICP-AES和ICP-MS的進樣部(bù)分(fēn)及等離(lí)子體是極其相似的(dí)。ICP-AES測量的(dí)是光學(xué)光(guāng)譜(pǔ)（120nm～800nm）
，ICP-MS測量的(dí)是離子質(zhì)譜
，提(tí)供在(zài)3～250amu範(fàn)圍內(nèi)每(měi)一個原子(zǐ)質(zhì)量單位(wèi)（amu）的信(xìn)息。還可測量同位素測定(dìng)。尤(yóu)其是(shì)其檢(jiǎn)出(chū)限(xiàn)給人(rén)極深(shēn)刻的印象
，其溶(róng)液(yè)的檢(jiǎn)出限大部份為(wéi)ppt級(jí)
，石(shí)墨(mò)爐(lú)AAS的(dí)檢出限(xiàn)為亞(yà)ppb級
，ICP-AES大部份元素(sù)的檢(jiǎn)出限為1～10ppb
，一(yī)些(xiē)元素也(yě)可得(dé)到(dào)亞ppb級的檢出(chū)限。但(dàn)由於ICP-MS的耐鹽量(liáng)較差
，ICP-MS的(dí)檢(jiǎn)出限(xiàn)實際上(shàng)會變(biàn)差多達(dá)50倍(bèi)
，一(yī)些(xiē)輕元(yuán)素(sù)（如S，Ca，Fe，K，Se）在ICP-MS中有(yǒu)嚴(yán)重的幹擾(rǎo)
，其(qí)實(shí)際檢出限也很差(chà)。